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week1-3-半导体器件基础

1.1 半导体基础知识

本征半导体

  • 载流子:自由电子与空穴(浓度相等)。
  • 本征激发:价电子挣脱共价键成为自由电子,同时产生空穴。
  • 复合:自由电子与空穴相遇时消失的过程。

杂质半导体

类型 掺杂元素 多子 少子
N型 磷(P) 自由电子 空穴
P型 硼(B) 空穴 自由电子

PN结的形成

  • 扩散与漂移
  • 扩散:多子因浓度差向对方区域运动。
  • 漂移:少子在内电场作用下反向运动。
  • 动态平衡:扩散电流与漂移电流相等时形成耗尽层(空间电荷区)

1.2 PN结特性

单向导电性

偏置类型 条件 载流子运动 电阻特性 电流特点
正向偏置 P接正,N接负 多子扩散 低电阻 电流大(指数增长)
反向偏置 P接负,N接正 少子漂移 高电阻 电流极小(≈-\(I_S\)

电流方程与伏安特性

  • 电流方程
    $$
    i = I_S \left( e^{\frac{u}{nU_T}} - 1 \right)
    $$
  • \(U_T = \frac{kT}{q}\)(常温≈26mV)。
  • 伏安特性曲线
  • 正向:开启电压硅管≈0.5V,锗管≈0.1V。
  • 反向:击穿前电流≈-\(I_S\),击穿后骤增(齐纳/雪崩击穿)。

电容效应

电容类型 定义 主导场景
势垒电容 耗尽层宽度变化等效电容 反向偏置
扩散电容 正向偏置时载流子积累的电容 正向偏置
- 总电容\(C_j = C_b + C_d\),高频时影响开关速度。

1.3 半导体二极管

符号与结构

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符号:───▶|───(阳极→阴极)
结构:PN结封装,引出电极。

伏安特性

材料 开启电压\(U_{on}\) 导通电压\(U_D\) 反向电流\(I_S\) 击穿电压\(U_{BR}\)
0.5V 0.5~0.8V ~10pA
0.1V 0.1~0.3V ~1µA

等效电路模型

  1. 理想模型:导通时短路,截止时开路。
  2. 恒压降模型:硅管0.7V,锗管0.2V。
  3. 微变等效模型
    - 动态电阻 \(r_d = \frac{nU_T}{I_D}\)(硅管常温≈26Ω/mA)。

稳压二极管(齐纳二极管)

  • 特性:反向击穿区电压稳定,动态电阻 \(r_z = \frac{\Delta V_Z}{\Delta I_Z}\)
  • 参数
  • 稳定电压 \(V_Z\),最大耗散功率 \(P_{ZM} = V_Z \cdot I_{ZM}\)
  • 应用:需串联限流电阻 \(R\),确保 \(I_Z < I_{ZM}\)

1.4 双极型晶体管(BJT)

结构与符号

  • NPN型:发射区(N+)、基区(P)、集电区(N)。
  • PNP型:发射区(P+)、基区(N)、集电区(P)。
  • 符号
    Text Only
    NPN:  ───▶|─┬─▶|───
    PNP:  ───◀|─┴─◀|───
    

放大原理

  • 工作状态
状态 条件 电流关系
放大区 发射结正偏,集电结反偏 \(I_C = \beta I_B\)
截止区 发射结反偏 \(I_B \approx 0\)
饱和区 发射结与集电结均正偏 \(V_{CE} \approx 0.2V\)

特性曲线

  • 输入特性(共射):类似二极管伏安特性。
  • 输出特性(共射):
  • 放大区\(I_C \approx \beta I_B\),曲线近似水平。
  • 饱和区\(V_{CE} < V_{BE}\)\(I_C < \beta I_B\)

主要参数

  • 电流放大系数
  • \(\beta = \frac{I_C}{I_B}\)(直流),\(\beta_{ac} = \frac{\Delta I_C}{\Delta I_B}\)(交流)。
  • 极间电容:影响高频响应。

关键公式推导

  1. PN结电流方程
    $$
    i = I_S \left( e^{\frac{u}{nU_T}} - 1 \right)
    $$
    - 正向偏置时简化为 \(i \approx I_S e^{\frac{u}{nU_T}}\)

  2. 晶体管电流关系
    $$
    I_C = \beta I_B + (1 + \beta) I_{CBO}
    $$
    - \(I_{CBO}\):穿透电流(极小)。


总结

本文档覆盖半导体物理基础、PN结特性、二极管及晶体管工作原理,适合电子技术入门学习。关键点包括载流子行为、伏安特性分析、放大与开关应用。
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