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week1-3-半导体器件基础¶
1.1 半导体基础知识¶
本征半导体¶
- 载流子:自由电子与空穴(浓度相等)。
- 本征激发:价电子挣脱共价键成为自由电子,同时产生空穴。
- 复合:自由电子与空穴相遇时消失的过程。
杂质半导体¶
类型 | 掺杂元素 | 多子 | 少子 |
---|---|---|---|
N型 | 磷(P) | 自由电子 | 空穴 |
P型 | 硼(B) | 空穴 | 自由电子 |
PN结的形成¶
- 扩散与漂移:
- 扩散:多子因浓度差向对方区域运动。
- 漂移:少子在内电场作用下反向运动。
- 动态平衡:扩散电流与漂移电流相等时形成耗尽层(空间电荷区)。
1.2 PN结特性¶
单向导电性¶
偏置类型 | 条件 | 载流子运动 | 电阻特性 | 电流特点 |
---|---|---|---|---|
正向偏置 | P接正,N接负 | 多子扩散 | 低电阻 | 电流大(指数增长) |
反向偏置 | P接负,N接正 | 少子漂移 | 高电阻 | 电流极小(≈-\(I_S\)) |
电流方程与伏安特性¶
- 电流方程:
$$
i = I_S \left( e^{\frac{u}{nU_T}} - 1 \right)
$$ - \(U_T = \frac{kT}{q}\)(常温≈26mV)。
- 伏安特性曲线:
- 正向:开启电压硅管≈0.5V,锗管≈0.1V。
- 反向:击穿前电流≈-\(I_S\),击穿后骤增(齐纳/雪崩击穿)。
电容效应¶
电容类型 | 定义 | 主导场景 |
---|---|---|
势垒电容 | 耗尽层宽度变化等效电容 | 反向偏置 |
扩散电容 | 正向偏置时载流子积累的电容 | 正向偏置 |
- 总电容:\(C_j = C_b + C_d\),高频时影响开关速度。 |
1.3 半导体二极管¶
符号与结构¶
伏安特性¶
材料 | 开启电压\(U_{on}\) | 导通电压\(U_D\) | 反向电流\(I_S\) | 击穿电压\(U_{BR}\) |
---|---|---|---|---|
硅 | 0.5V | 0.5~0.8V | ~10pA | 高 |
锗 | 0.1V | 0.1~0.3V | ~1µA | 低 |
等效电路模型¶
- 理想模型:导通时短路,截止时开路。
- 恒压降模型:硅管0.7V,锗管0.2V。
- 微变等效模型:
- 动态电阻 \(r_d = \frac{nU_T}{I_D}\)(硅管常温≈26Ω/mA)。
稳压二极管(齐纳二极管)¶
- 特性:反向击穿区电压稳定,动态电阻 \(r_z = \frac{\Delta V_Z}{\Delta I_Z}\)。
- 参数:
- 稳定电压 \(V_Z\),最大耗散功率 \(P_{ZM} = V_Z \cdot I_{ZM}\)。
- 应用:需串联限流电阻 \(R\),确保 \(I_Z < I_{ZM}\)。
1.4 双极型晶体管(BJT)¶
结构与符号¶
- NPN型:发射区(N+)、基区(P)、集电区(N)。
- PNP型:发射区(P+)、基区(N)、集电区(P)。
- 符号:
放大原理¶
- 工作状态:
状态 | 条件 | 电流关系 |
---|---|---|
放大区 | 发射结正偏,集电结反偏 | \(I_C = \beta I_B\) |
截止区 | 发射结反偏 | \(I_B \approx 0\) |
饱和区 | 发射结与集电结均正偏 | \(V_{CE} \approx 0.2V\) |
特性曲线¶
- 输入特性(共射):类似二极管伏安特性。
- 输出特性(共射):
- 放大区:\(I_C \approx \beta I_B\),曲线近似水平。
- 饱和区:\(V_{CE} < V_{BE}\),\(I_C < \beta I_B\)。
主要参数¶
- 电流放大系数:
- \(\beta = \frac{I_C}{I_B}\)(直流),\(\beta_{ac} = \frac{\Delta I_C}{\Delta I_B}\)(交流)。
- 极间电容:影响高频响应。
关键公式推导¶
-
PN结电流方程:
$$
i = I_S \left( e^{\frac{u}{nU_T}} - 1 \right)
$$
- 正向偏置时简化为 \(i \approx I_S e^{\frac{u}{nU_T}}\)。 -
晶体管电流关系:
$$
I_C = \beta I_B + (1 + \beta) I_{CBO}
$$
- \(I_{CBO}\):穿透电流(极小)。
总结¶
本文档覆盖半导体物理基础、PN结特性、二极管及晶体管工作原理,适合电子技术入门学习。关键点包括载流子行为、伏安特性分析、放大与开关应用。
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